紅外熱像儀在檢測LED中的應(yīng)用

紅外熱像儀在LED檢測中的應(yīng)用

[ 2012-05-16 ]  [瀏覽次數(shù)：3171]  [來源：5117]

LED作為取代傳統(tǒng)照明工具(如白熾燈、鹵素?zé)舻?的新型光源，其散熱效果嚴(yán)重影響LED的實際使用壽命，散熱工藝成為LED應(yīng)用和發(fā)展的關(guān)鍵因素，紅外熱像儀可以進(jìn)行LED溫度檢測，幫助驗證散熱工藝。 

事實上，LED的實際壽命與工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時、63℃為25000小時，小于50℃時，則可為50000小時。根本原因是LED的光電轉(zhuǎn)換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉(zhuǎn)為光輸出，其余均轉(zhuǎn)換成為熱能，因此，當(dāng)大量使用高功率的LED于一塊模組，應(yīng)用于高亮度的操作時，這些極差的轉(zhuǎn)換效率將造成散熱處理的大問題。 

熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠發(fā)揮作用，而且也可以應(yīng)用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面。 

1、研發(fā)：主要是對LED模塊驅(qū)動電路(包括電源)、光源半導(dǎo)體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。 

a)LED模塊驅(qū)動電路 

在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動電路設(shè)計，例如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計。 

b)LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱 

利用熱像儀，工程師可以通過光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分析出其芯片在工作時的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。 

c)光衰試驗 

LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。目前，市場上的白光LED其光衰可能是向民用照明進(jìn)軍的首要問題之一。 

2、品質(zhì)管理 

a)半導(dǎo)體照明：吹制燈泡均勻性 

通過熱像儀抓拍產(chǎn)線玻璃吹泡的過程，進(jìn)行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可以有效提高產(chǎn)品成品率，降低成本。 

b)LED檢測芯片封裝前的溫度 

LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好的幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問題，作為流水線檢測工具。 

c)LED成品顯示屏開機(jī)測試 

LED顯示屏完成后，要做zui后驗收，通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒有這個流程。使用熱像儀后，能夠為廠家完善產(chǎn)品檢測標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。 

紅外熱像儀的*作用 

在使用熱像儀前，LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒有很好的解決這個問題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮*作用：

1、通過紅外線熱像儀檢測目標(biāo)時，不需要斷電，操作方便，同時非接觸測量使原有的溫度場不受干擾；反應(yīng)速度較快，小于1毫秒。 

2、*時間識別和定位故 

使用熱像儀進(jìn)行拍攝時，若要得到一幅的紅外熱圖，我們建議： 

1、需要分辨較小溫差的場合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀； 

2、先用自動模式測量溫度范圍；然后手動設(shè)置水平及跨度，將溫度范圍設(shè)置在zui小，并包含有先前測量的溫度范圍。